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泰克371B 回收 Tektronix371B 歐陽R:13537;;;229325
泰克 371B 曲線跟蹤儀用于測試各種功率半導體。Tektronix371B 是高功率曲線 器的行業 ,可對各種功率半導體執行直流參數表征,包括晶閘管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高壓集電極模式允許測試高達 3,000 伏的器件的關閉特性。脈沖高電流集電極模式提供大于 400 安培峰值的輸出電流脈沖,用于測試導通特性。它還允許進行高達 3,000 瓦的高功率測試。
Tektronix 371B 測量的交互式控制是從全功能前面板或通過 GPIB 完成的。每個操作參數都可以使用 GPIB 控制器進行控制。 上提供了 Tektronix 371B 系列 LabView 驅動程序。這些驅動程序具有許多構建塊來創建自定義測量解決方案。
多 80 條數字化特性曲線可以存儲在軟盤或內部非易失性存儲器中,只需按一下按鈕即可調用。然后可以將實時曲線與先前存儲的曲線進行比較,以評估溫度漂移或操作參數的其他變化。為幫助識別數據,多可使用 24 個字符的文本來標記或注釋曲線數據。可以使用多種存儲方法調整、存儲和調用操作參數,包括系統內存、內置 1.44 MB 軟盤驅動器,或通過 GPIB 控制器發送到外部。
Tektronix 371B 提供三種光標測量模式。點光標提供任何點的電壓、電流、gm 或 DC beta 的直接屏幕讀數。窗口光標可以定位在兩條曲線之間以測量小信號 beta 或 gm,也可以用于視覺通過/不通過測試。功能線光標提供斜率或截距值的屏幕讀數。
測試夾具是一種標準附件,可提供安全的設備外殼,以確保在測量期間保護操作員。測試夾具可容納帶開爾文感應功能的標準適配器。
泰克 371B 高功率曲線跟蹤儀的特點包括:
半導體器件的高精度測量
高壓和電流源(高達 3,000 V 或 400 A)
內置光標測量 - 點、窗口和功能線
波形比較和平均開爾文檢測測量
完全可編程
1.44 MB 軟盤驅動器存儲設置和曲線位圖
使用第三方打印機直接打印硬拷貝
Tek 371B 曲線 蹤器的替代品:Tektronix 371A
規格: |
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數量: |
2 |
包裝: |
日期: |
2024-07-24 |
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