HUSTEC-1600A-MT

功率器件靜態參數測試儀

Power Device Static Parameter Tester


大功率半導體測試儀華科智源
產品測試電流電壓為1600A,±5000V,向下兼容，可升級到3KA/10KV.

VGE可達±100V；開啟電壓VGETH支持兩種測試方法；

采用插槽式設計結構，便于升級和維護；

設備支持SI基，SIC材料的MOS管，IGBT單管及模塊，二極管測試，晶閘管測試，

自動進行分檔測試，既覆蓋大功率特征下的測試范圍，又可***小功率器件測試精度


大功率半導體測試儀華科智源
支持單點測試，I-V曲線掃描，還具有曲線對比功能；同一規格型號，不同批次的產品曲線對比，同一規格，不同廠家之家的產品曲線對比

開放通訊接口，可以連接探針臺做wafer / chip 測試，也可以連接HANDLE,夾具及適配器做模塊測試,

測試數據可存儲為Excel文件，WORD報告


六：華科智源IGBT測試儀制造標準

華科智源IGBT測試儀HUSTEC-1200A-MT除滿足本技術規格書的要求外，在其設計、制造、試驗、檢定等制程中還應滿足以下標準的版本。

GB/T 29332-2012 半導體器件分立器件第9 部分：絕緣柵雙極晶體管（IGBT）

GB 13869-2008 用電安全導則

GB19517-2004 電器設備安全技術規范

GB 4208-2008 外殼防護等級（IP 代碼）（IEC 60529：2001，IDT）

GB/T 191-2008 包裝儲運圖示標志

GB/T 15139-1994 電工設備結構總技術條件

GB/T 2423 電工電子產品環境試驗

GB/T 3797-2005 電氣控制設備

GB/T 4588.3-2002 印制板的設計和使用

GB/T 9969-2008 工業產品使用說明書總則

GB/T 6988-2008 電氣技術用文件的編制

GB/T 3859.3 半導體變流器變壓器和電抗器

GB/T 4023-1997 半導體器件分立器件和集成電路第2 部分:整流二極管